Cell PG主要用于OLED/LCD屏体的Cell缺陷检查、白平衡调节等。内部电路采用先进的FPGA可编程逻辑门阵列技术，以实现高实时性和高同步性的信号时序控制。

MDL老化PG用于模组高温/常温老化测试环节，输出持续、稳定的满屏/循环测试信号（如纯色、棋盘格、滚动条纹），长时间加载在模组上，加速暴露潜在的可靠性问题（如虚焊、元件早期失效），是可靠性验证工具。

MDL检测PG通过产生标准的图像信号、控制信号及电源电压施加到被测显示模组，以完成显示测试、Gamma调节、Mura修复等工序。