老化修复设备
S9620是www.kaiyun.com公司推出的一体化大容量DRAM测试设备，致力于提升DRAM的测试效率和精度，降低测试成本。S9620支持对DDR4、DDR5、LPDDR4和LPDDR5型号的DRAM芯片进行老化测试（Burn in Test）和核心测试（Core Test）。
往下查看更多
产品优势
-
01大容量：支持23040个DUT (Device Under Test)并行测试
-
02高集成：支持老化测试、高低温测试和核心测试，有效节省空间、老化测试和核心测试之间的转换时间
-
03高速率：支持最高100 MHz/200 Mbps的测试速率
-
04宽温域：测试温度范围为-10~150℃
-
05高精度：时钟边沿分辨率为625 ps，高低温老化炉温度控制精度为±1.0℃
-
06自动化：支持全自动化测试，实现智能化生产
-
07易操作：支持命令行和GUI界面等多种交互方式，提供了丰富的可视工具和软件接口，并且兼容常见的C语言测试程序
产品功能
对应产品
DDR4/5, LPDDR4/5
测试速率
100MHz/200Mbps
并测支持
支持23040DUT/total
技术参数
数字通道： 46080ch/sys;
电源通道：960 HCPPS+960 HVPPS+ 960 TMPS+240 PPS
边沿分辨率： 625ps
Timing Set： 16
DR/IO Range： 1V-2.1V
